SXJS-II全自动抗干扰介质损耗测试仪

  智能化全自动抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。